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日立アプライアンス株式会社

Hitachi

自動車関連産業、半導体関連産業においては自動車メーカ規格または米国半導体規格への対応可能製品および開発、評価処理時間の短縮化対応可能製品のニーズが増加しています。そのニーズに対応するために、新たにエクセレント・シリーズとして急速温度変化対応型恒温恒湿槽ならびにノーデフロストタイプヒートショック試験装置をラインアップしました。

恒温槽(JEDEC規格対応型)

製品特長

JEDEC規格に対応

温度変化速度15℃/分

  • 温度変化速度15℃/分に対応
    試料温度のリニア制御(ランプ制御)による15℃/分の温度変化速度を実現し、半導体・電子部品の温度サイクル試験規格であるJESD22-A104Cに対応しました。
    冷却・加熱能力の向上により、試料温度による15℃/分のランプ制御が可能です。
    (設定温度範囲:-40℃〜125℃、試料:ガラスエポキシ基板6kg)
  • 温度サイクルの運転機能の追加
    高温ソーク、低温ソーク、ランプ制御、試料温度制御などJEDEC試験規格に対応した設定および運転が可能な「温度サイクル」運転機能を追加しました。

省エネ運転に対応

二元冷凍サイクルと単段冷凍サイクルの組み合わせの採用と冷凍機制御の最適化により、急速温度変化に対応するとともに、「定値運転」および「プログラム運転」での省エネ運転を実現しました。

*
運転モード:「省エネモード」および「標準モード」設定の場合

省スペース

機器構成および配置の見直しにより、据付面積を低減し、省スペース化を実現しました。

温度制御機能に対応可能

湿度制御機能付仕様機(型式:EC-25EXHH)をラインアップ。温度サイクル試験と温湿度試験が1台で対応可能です。なお、給排水の仕様は、自動給水および自動排水仕様での対応となります。

*
湿度制御運転:「省エネモード」および「標準モード」設定の場合に有効

温度範囲の拡大

温度範囲の上限を180℃まで拡大しました。

標準仕様表

型式 EC-25EXTH EC-25EXHH
性能 温度範囲 -70〜180℃
湿度範囲 20〜98%RH
温度分布 +100℃以下:±0.7℃、+101℃以上:±1.0℃
湿度分布 ±5%RH
温度降下時間 +155〜-45℃まで11分以内(18℃/分平均温度変化)
(設定温度:+180℃→-70℃)
温度上昇時間 -45〜+155℃まで9分以内(23℃/分平均温度変化)
(設定温度:-70℃→+180℃)
試験室 内容量 235L
寸法(mm) W630×D540×H690
製品寸法(mm) W1100×D1600×H1950
外装 冷間圧延鋼板(塗装色:ダークグレイ)
冷却装置 冷却方式 水冷式、単段圧縮冷凍方式十二元冷凍方式
冷媒 単段側:R404A、二元側:(高温側)R404A、(低温側)R23
電源 交流、三相、200V、50/60Hz
最大負荷電流 105A 114A
冷却水 水量 6000L/h(冷却水入口水温32℃時)
水圧 0.1〜0.5MPa
配管径 装置側:Rc11/4
製品質量 約830kg
  1. 運転可能範囲は、周囲温度:0〜40℃,冷却水入口温度:5〜38℃,電源電圧:定格±10%以内です。
  2. 性能は、次の条件により、JTM規格に準拠した値を示します。
    (1)無負荷、無試料、(2)電源電圧:定格±5%以内、(3)周囲温度は5〜35℃、冷却水入口温度15〜30℃ただし、温度降下時間および温度上昇時間は、装置を「急速モード」に設定し、周囲温度23℃、冷却水入口水温25℃の場合を示します。
    (平均温度変化速度は、降下・上昇温度範囲内の全領域の変化速度を保障するものではありません。)
  3. 最大負荷電流は、周囲温度:23℃、冷却水入口水温:25℃、電源電圧200Vでの値を示します。

ヒートショック試験装置

製品特長

開発試験時間の大幅短縮および省エネルギー化

試験時間30%短縮、消費電力量25%低減。
(当社MIL対応タイプ比)
日立独自の機構により1000サイクル除霜無しでの温度サイクル運転を達成。
(2ゾーン、試験室扉の開閉がない場合)

1000〜3000サイクル試験用に機能を充実

試験中断機能と5個のサイクルカウント機能を標準装備。
途中チェック、途中試料追加を容易にしました。

シリーズ構成・標準仕様表

型 式 ES - 76EX EC - 206EX
方式 試料静止形、冷温風切換方式、2ゾーン・3ゾーン切換え可能
温度範囲 低温試験:-70〜0℃、高温試験:80〜200℃
温度変動幅 ±0.5℃
温度上昇時間(高温槽) 常温〜200℃:25分以内
温度下降時間(低温槽) 常温〜-75℃:70分以内
温度サイクル サイクル数*2
(連続運転可能サイクル数)(低温始動)
1,000サイクル 500サイクル
テストゾーン 低温 高温 低温 高温
試験室温度/試験時間 -65℃/15分 +150℃/15分 -40℃/30分 +125℃/30分
温度測定位置 風下側
試料質量/温度復帰時間*1 プラスチックモールドIC 5kg
(搭載治具質量含む)/5分以内
プラスチックモールドIC 10kg
(搭載治具質量含む)/5分以内
試験室内 許容試料質量 最大30kg
(床面20kg以下,試料棚5kg/枚以下)
最大50kg
(床面40kg以下,試料棚11kg/枚以下)
試験室内容量(L) 70 200
試験室寸法(mm) W315×D495×H460 W630×D690×H460
製品寸法(mm) W1625×D1800×H1980
  1. 運転可能範囲は、周囲温度:0〜40℃、冷却水入口温度:5〜38℃、電源電圧:定格±10%です。但し、連続運転の制限は4項によります。
  2. 性能は、(1)周囲温度:23℃、周囲湿度:60%以下、冷却水入口温度:25℃(2)電源電圧:定格±5%以内の場合を示します。但し、次の項目は条件が異なります。
    *1
    温度復帰時間は、高温、低温設定値の±2℃範囲に到達した時点とします。
    *2
    500、1000サイクル(但し最大500時間)連続運転は、試験サイクルの中断および試験室扉の開閉が無い場合に限ります。
  3. 連続運転する場合、次の時間を目安に除霜運転を必ず行ってください。*2
    (1)2ゾーン運転の場合:本試験装置は最大1000サイクル(但し最大500時間)の連続運転設定が可能です。但し、周囲条件により1000サイクル(但し最大500時間)の連続運転が出来ない場合があります。この場合は連続運転時間を短く設定し、除霜運転を行ってください。また、1000サイクル(但し最大500時間)連続運転は、試験サイクルの中断及び試験室扉の開閉が無い場合に限ります。
    (2)3ゾーン運転の場合:最大12〜24時間に1回除霜を設定(但し最大10〜20サイクルに1回)してください。この除霜運転条件は連続運転の目安であり、温度サイクル性能及び連続運転時間を保証するものではありません。過度の連続運転を行った場合、低温槽内冷却器への着霜により保護装置が作動して異常停止します。